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Surtronic DUO粗糙度儀量程信息
點擊次數(shù)：98 更新時間：2025-11-28
泰勒霍普森旗下經(jīng)典便攜式粗糙度測量設(shè)備，Surtronic DUO以精準性與通用性立足工業(yè)檢測領(lǐng)域，其核心參數(shù)與測量精度契合現(xiàn)代精密制造的質(zhì)量管控需求。該設(shè)備搭載耐磨金剛石測針（半徑5μm）與高靈敏度壓電傳感器，垂直位移分辨率達0.01μm，Ra參數(shù)測量量程40μm，Rz、Rp等擴展參數(shù)量程可達199μm，滿足ISO 4287等國際標準規(guī)定的多參數(shù)測量要求。
在測量精度方面，Surtronic DUO，粗糙度標準（Ra）測量精度達±(2%+0.004μm)，工件單次測量誤差控制在±3%以內(nèi)，噪聲僅0.02μm，搭配自動校準程序，確保數(shù)據(jù)具備良好的可追溯性。這種高精度特性使其在多行業(yè)場景中均能穩(wěn)定發(fā)揮作用：航空航天領(lǐng)域可精準檢測發(fā)動機葉片、復合材料結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵部件，其中激光模式可實現(xiàn)復合材料無損評估，觸針模式保障金屬部件測量精度；汽車制造環(huán)節(jié)中，從發(fā)動機缸體到傳動齒輪、塑料密封件，均可通過設(shè)備實現(xiàn)生產(chǎn)線實時檢測，大幅縮短檢測周期。
